journal£ºSPIE Proceedings
Authors£ºJ. Ziegler; D. Eich; S. Hanna; A. Bauer; H. Bitterlich; M. Bruder; K.-M. Mahlein; H. Lutz; T. Schallenberg; J. Wenisch; R. Wollrab
Published date£º2010-4-23
DOI£º10.1117/12.849375
Article link£ºhttp://dx.doi.org/10.1117/12.849375
Article Source£ºSPIE¡£
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